西迪斯XO时钟振荡器CB3-3C-16M3840支持6G无线应用，CTS是一家有着非凡影响力的晶振品牌公司，一直以来专注于自身的成长，以及专注于开发性能优越，低成本的晶振产品，同时为广泛应用市场提供极大的便利，通过自身的努力，CTS拥有尖端的生产技术，还拥有广泛的tcxo、VCXO和有源晶振系列，用于电信定时和 同步应用，旗下用心打磨的编码CB3-3C-16M3840，型号CB3，尺寸为7.00mmx 5.00mm，频率为16.384MHz，频率稳定性为±50ppm，IV层CB3和CB3LV是低成本的低压时钟振荡器，支持HCMOS输出。IV层CB3/CB3CB3LV采用最新的IC技术，具有良好的稳定性和低相位抖动性能。

产品特性：陶瓷表面安装封装，基础和第三泛音晶体设计，频率范围1.0-80MHz
+3.3V和+5.0V操作，工作温度范围到-40°C到+85°C，输出使标准，磁带和卷轴包装，EIA-481，产品主要应用范围：无线通信，网络设备，数据通信，计算机和外围设备，以太网/GbE/SyncE，测试和测量，6G无线网络设备等领域。

提供了一个可能的CTS晶体振荡器列表，适用于各种阶层、无线同步和ToP(分组定时)应用，包括第2层、3E层， Stratum 3、GSM、WCDMA、TD-SCDMA、CDMA2000、WiMAX、LTE和ToP(分组定时)。这 列表已经根据适用的标准进行了分类。

北美同步网络的时钟被分为四个基本的“层”级别(即， 层1、2、3和4)，其中层1时钟最准确，层4时钟最不准确 准确。除了这四个基本级别之外，还有两个增强的层分类(即，层3E和4E)，这是介于第2层和第3层之间的中转节点时钟(TNC)的级别，而另一个 介于第3层和第4层之间的SONET最小时钟(SMCs)级别。所有这些级别 (将在下面进一步描述)已经被标准化，并且它们的基本性能参数是在ANSI T1.101中定义。一般来说，已经建立了各种级别的性能参数为了确保同步可以从最精确的时钟通过网络传输，通过中间时钟，到最不精确的时钟。西迪斯XO时钟振荡器CB3-3C-16M3840支持6G无线应用.

第二层、3E和第三层时钟构成了服务提供商同步网络的主要分布部分。 这些时钟通常成对地部署在ne(网元)中(即，独立的、冗余的 单元，每个单元由一个振荡器和控制该石英晶体振荡器的功能组成)。

一般来说，层3E级别被定义为与先前存在的层3时钟兼容(即，它 与地层3具有相同的拉入/保持要求)。然而，3E地层对过滤的要求 漂移和保持明显比层3更严格。GR-436-CORE建议stratum3E时钟是用于构建集成定时供应(BITS)应用的最小时钟。此外，建议不要在除a位以外的网元中使用stratum3E或更高质量的时钟 (例如，建议传输ne使用stratum3或更低质量的时钟)。

时钟的准确度是衡量它在没有任何参考的情况下产生频率的能力 尽可能接近标称频率。频率精度在中定量表示和定义 最大小数频偏术语，如第3.2节所述。表4-1、4-4、4-7列出了各种时钟层(层2、3E、3)的自由振荡精度值。

保持稳定性表示在所有数据丢失后，时钟频率随时间的最大变化 参考频率(保持模式)。在大多数情况下，这里列出的值是复合值等等.

保持模式是时钟丢失参考并使用数据的工作条件以控制其输出信号。一般来说 在保持模式下，时钟所使用的存储数据或“保持值”是在一定时间内获得的平均值一段时间(为了减少参考中可能出现的任何短期变化的影响正常操作期间的频率)。

牵引范围衡量输入频率与标称时钟速率的最大偏差，可以是被时钟克服以将其自身拉到与参考信号同步。此要求适用于时钟在其精度极限的极端情况下自由运行的频率。

在ANSI T1.101中，漂移被定义为数字信号的有效瞬间相对于其有效瞬间的长期变化 理想的时间位置。长期变化是那些低频变化(例如，小于10 Hz)。 漂移通常用最大时间间隔误差(MTIE)和时间来表示和测量 偏差(TDEV)

MTIE发现在给定的时间窗内信号的时间延迟的峰间变化 观察时间)如图3-1所示。因此，它对于指定瞬变、边界 最大漂移和控制频率偏移。有关MTIE的更多信息，请参考ANSI附录C T1.101。

TDEV[或δx(τ)]以时间单位(例如纳秒)表示，并且是时间方差的平方根 (TVAR)，在第3.12节中进行了数学定义。给定积分时间的TDEV本质上是 计算通过带通滤波器测得的时序信号相位噪声的均方根能量，使用由积分时间决定的滤波器特性。因此，TDEV对于指定贴片有源晶振相位噪声的频谱内容。这对于漂移传递要求是必要的 指定时钟必须执行的过滤次数。这也有助于限制漂移产生要求在各种频率下产生的漂移，以便可以被下游时钟和可以控制网络漂移累积。

在评估TDEV结果时，重要的是要认识到TDEV是一个统计参数，因此有一个 必须考虑的有限信心。一般来说，TDEV结果有较高的信心时 根据在较长测量周期内收集的数据计算(即，测量的置信度 随着测量周期与积分时间之比的增加而提高)。然而，确切的 关系是一个正在研究的问题。在制定任何附加指南之前，一种方法是 仅将TDEV结果用于占总测试时间特定部分的积分时间。为 例如，测试产品是否符合适用的漂移产生要求的实验室可能 决定仅使用总测试时间十分之一的积分时间。因此，要衡量TDEV 集成时间长达10，000秒，需要100，000秒的数据。