- [TXC资讯]测试相位噪声超低的NEL OCXO晶体振荡器2019年07月22日 15:53
- 现代仪器设备,商业和国防通信系统以及雷达设备需要出色的稳定性,极低的相位噪声频率源.使用现有测试设备和方法,在噪声层上偏离载波1Hz并且噪声层优于-180dBc/Hz的相位噪声为-120dBc/Hz的测试设备是一项挑战.此类OCXO石英晶体振荡器尤其适用于生产环境,每个测量的测量时间和精度都变得至关重要.这项工作的目的是研究不同的测试方法,评估不同的相位噪声测量设备,并找到低频(约10MHz)超低相位噪声(ULPN)参考和HF/UHF ULPN OCXO的可接受解决方案.研究了几种测试方法和测试仪器.
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